Основы нанометрии

Проблемы, задачи и средства нанометрии. Меры малой длины и стандартные образцы нанорельефа поверхности. Концепция метрологического обеспечения нанометрии. Характеристика высокоразрешающих методов сканирующей зондовой микроскопии и лазерной дифрактометрии.

Рубрика Производство и технологии
Предмет Метрология, стандартизация и спецификация
Вид реферат
Язык русский
Прислал(а) Николай
Дата добавления 22.05.2012
Размер файла 28,8 K

Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже

Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.


Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.