Скачивание началось.
Взамен отправьте на сайт одну из ваших хороших работ

Пожалуйста, не загружайте работы, только-что скачанные из Интернета. Подберите работу, в которую вложены ваши знания и труд - работу, которой вы хотели бы поделиться с другими студентами. Они будут признательны вам.

Если вас поджимают сроки, рекомендуем обратиться в компанию Multiwork. Перейдите по ссылке, чтобы узнать стоимость уникальной работы и сделать заказ у профессионалов.

Главная База знаний "Allbest" Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника Сканирующая зондовая микроскопия

курсовая работа  Сканирующая зондовая микроскопия

История создания электронного микроскопа. Исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств при помощи сканирующих зондовых микроскопов. Уравнение обратного пьезоэффекта для кристаллов. Механические редукторы и шаговые электродвигатели.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

  ______  __    _______   ______  ______  
 / ____ \/  \  (  ____ \ / ____ \/ ___  \ 
( (    \/\/) ) | (    \/( (    \/\/   )  )
| (____    | | | (____  | (____      /  / 
|  ___ \   | | (_____ \ |  ___ \    /  /  
| (   ) )  | |       ) )| (   ) )  /  /   
( (___) )__) (_/\____) )( (___) ) /  /    
 \_____/ \____/\______/  \_____/  \_/     
                                          

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид курсовая работа
Язык русский
Дата добавления 03.05.2011
Размер файла 68,5 K

Подобные документы

  • Электронная микроскопия

    Основные характеристики микроскопов: разрешающая способность, глубина резкости. Принцип действия электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Принцип действия ионных микроскопов, полевого ионизационного и растрового туннельного микроскопа.

    реферат [7,0 M], добавлен 15.01.2009

  • Электронно-микроскопические методы исследования материалов

    Сравнительные характеристики световых и электронных микроскопов. Растровая электронная микроскопия. Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности. Применение атомно-силового микроскопа.

    курсовая работа [1,2 M], добавлен 10.01.2014

  • Датчик вторичных электронов с селекцией по энергиям для растрового электронного микроскопа

    Механика и принципы методов исследования поверхности твердого тела: вторичная электронная эмиссия; масс-спектрометрия. Принципы работы растрового электронного микроскопа. Разработка алгоритма расчетов секторных магнитов с однородным магнитным полем.

    дипломная работа [7,6 M], добавлен 22.02.2012

  • Атомно-силовой микроскоп

    Основы сканирующей зондовой микроскопии. История изобретения атомно-силового микроскопа. Основные технические сложности при создании микроскопа. Конструкция атомно-силового микроскопа, преимущества в сравнении с растровым электронным микроскопом.

    курсовая работа [231,8 K], добавлен 09.01.2012

  • Исследование температурной зависимости свойств преобразователя оптического излучения

    Обзор оптических свойств преобразователей оптического излучения при разных температурах. Изучение возможностей прибора для нагревания кристаллов, собранного на базе ПИД-регулятора ОВЕН ТРМ101. Настройка прибора, разработка инструкции по пользованию им.

    дипломная работа [1,8 M], добавлен 30.06.2014

  • Сканирующие зондовые микроскопы

    История изобретения и эволюции микроскопа. Сканирующие зондовые микроскопы, их классификация по способу организации обратной связи. Принцип работы сканирующего туннельного, атомно-силового микроскопа. Особенности ближнепольной оптической микроскопии.

    презентация [3,1 M], добавлен 29.05.2014

  • Исследование полупроводниковых приборов

    Общие рекомендации к выполнению лабораторных работ. Изучение электронного осциллографа. Исследование выпрямительного и туннельного диодов. Исследование дифференциального включения операционного усилителя. Изучение свойств интегрирующего усилителя.

    учебное пособие [939,5 K], добавлен 25.03.2009

  • Машинная модель взволнованной водной поверхности и её обратного отражения, разработанного ЭВМ

    Феноменологическая модель рассеяния электромагнитных волн протяженной поверхностью. Дискретное представление и динамическая импульсная характеристика отражения поверхности. Анализ простого импульсного и оптимально согласованного с поверхностью сигналов.

    курсовая работа [5,1 M], добавлен 16.08.2015

  • Исследование свойств многоканальных доплеровских фильтров

    Исследование частотных свойств фильтра. Особенности уровня боковых лепестков, шумовых полос, максимальных потерь преобразования окна Кайзера-Бесселя при заданных параметрах. Исследование энергетических и вероятностных свойств многоканального фильтра.

    контрольная работа [485,2 K], добавлен 06.03.2011

  • Введение в наноэлектронику

    Тенденции к миниатюризации и переходу к нанометровым размерам в современной электронике. Физические основы зондовой нанотехнологии. Методы формирования нанорельефа. Совместное использование лазера и сканирующего электронного микроскопа в нанолитографии.

    реферат [1,3 M], добавлен 14.01.2017

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.

© 2000 — 2025, ООО «Олбест» Все наилучшее для вас