отчет по практике  Центр электронных технологий и технической диагностики технологических сред и твердотельных структур

Организационная структура Центра технической диагностики. Технологии ионно-лучевого и ионно-плазменного формирования тонких пленок. Магнетронная распылительная система. Изучение конструкции и принципа действия. Нормативно-техническая документация.

Нажав на кнопку "Скачать архив", вы скачаете нужный вам файл совершенно бесплатно.
Перед скачиванием данного файла вспомните о тех хороших рефератах, контрольных, курсовых, дипломных работах, статьях и других документах, которые лежат невостребованными в вашем компьютере. Это ваш труд, он должен участвовать в развитии общества и приносить пользу людям. Найдите эти работы и отправьте в базу знаний.
Мы и все студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будем вам очень благодарны.

Чтобы скачать архив с документом, в поле, расположенное ниже, впишите пятизначное число и нажмите кнопку "Скачать архив"

 ######     ##      ####    ######     ##    
 ##  ##    ###     ##  ##   ##  ##    ###    
    ##      ##     ##  ##      ##      ##    
   ##       ##      ####      ##       ##    
  ##        ##     ##  ##    ##        ##    
  ##        ##     ##  ##    ##        ##    
  ##      ######    ####     ##      ######  
                                             

Введите число, изображенное выше:

Рубрика Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника
Вид отчет по практике
Язык русский
Дата добавления 07.08.2013
Размер файла 683,4 K

Подобные документы

  • Ионно-плазменные методы получения тонких пленок. Конструктивные особенности установки катодного распыления. Характеристики и применение тонких пленок, полученных методом ионного распыления, последовательность процесса. Достоинства и недостатки метода.

    курсовая работа [1,0 M], добавлен 17.12.2014

  • Понятие и определения теории надежности и технической диагностики автоматизированных систем. Организация автоматизированного контроля в производственных системах. Характеристика и суть основных методов и средств современной технической диагностики.

    контрольная работа [55,3 K], добавлен 23.08.2013

  • Разработка и изготовление устройства магнетронного получения тонких пленок. Пробное нанесение металлических пленок на стеклянные подложки. Методы, применяемые при распылении и осаждении тонких пленок, а также эпитаксиальные методы получения пленок.

    курсовая работа [403,6 K], добавлен 18.07.2014

  • Совершенствование телекоммуникационных и информационных технологий. Алгоритм проектирования ВОЛП (волоконно-оптической линии передачи). Требования к технической документации по организации связи на проектируемом направлении. Состав рабочего проекта.

    контрольная работа [26,9 K], добавлен 12.08.2013

  • История возникновения и развития ОАО "НИТЕЛ", его организационная структура и характеристика деятельности. Описание принципов создания пленочных интегральных микросхем. Особенности формирования диэлектрических слоев. Технология напыления тонких пленок.

    отчет по практике [560,9 K], добавлен 29.11.2010

  • Основные задачи регионального центра связи (РЦС). Расчёт технической оснащённости, показателей качества технической работы. Планирование штата. Анализ основных производственных результатов. Мероприятия по стабилизации финансового состояния предприятия.

    курсовая работа [759,9 K], добавлен 25.05.2014

  • Проектирование современных электронных средств и характеристика существующих методов их конструирования. Государственные стандарты оформления конструкторской документации, их учет и хранение в бюро технической документации. Виды носителей информации.

    контрольная работа [60,0 K], добавлен 15.09.2010

  • Рассмотрение физических (термовакуумное напыление, катодное, трехэлектродное, высокочастотное, реактивное, магнетронное, лазерное распыление) и химических (жидкофазная, газофазная МОС-гидридная эпитаксия) вакуумных методов получения тонких пленок.

    курсовая работа [431,0 K], добавлен 16.02.2010

  • Построение графика изменения вероятности безотказной работы системы от времени наработки в диапазоне снижения вероятности до уровня 0.1-0.2 по структурной схеме надежности технической системы. Определение процентной наработки технической системы.

    практическая работа [449,1 K], добавлен 08.05.2010

  • Отработка технологии получения тонких пленок BST. Методики измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь сегнетоэлектрической пленки, напыленной на диэлектрическую подложку. Измерения емкости в планарных структурах.

    дипломная работа [2,2 M], добавлен 15.06.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу.