- документация;

- комплексы;

- сборочные единицы;

- детали;

- стандартные изделия;

- прочие изделия;

- материалы;

- комплекты.

5.Атомно-эмиссионный спектральный анализ

5.1 Эмиссионный анализ. Общие положения

Цель практического эмиссионного спектрального анализа состоит в качественном обнаружении, в полуколичественном или точном количественном определении элементов в анализируемом веществе.

Методы спектрального анализа, как правило, просты, экспрессные, легко поддаются механизации и автоматизации, т. е. они подходят для рутинных массовых анализов. При использовании специальных методик пределы обнаружения отдельных элементов, включая некоторые неметаллы, чрезвычайно низки, что делает эти методики пригодными для определения микроколичеств примесей. Эти методы, за исключением случаев, когда в наличии имеется лишь незначительное количество пробы, являются практически неразрушающими, так как для анализа требуются только малые количества материала образцов.

Точность спектрального анализа, в общем, удовлетворяет практическим требованиям в большинстве случаев определения примесей и компонентов, за исключением определения высоких концентраций основных компонентов сплавов. Стоимость спектрального анализа низка, хотя первоначальные капиталовложения достаточно высоки. Однако последние быстро окупаются вследствие высокой производительности метода и низких требований к материалам и обслуживающему персоналу.

Спектральный анализ (за исключением некоторых особых случаев) не пригоден для определения типов связей между элементами, т. е. вида соединений, присутствующих в образце. Как и все инструментальные методы анализа, количественный спектральный анализ основан на сравнительном исследовании анализируемого образца и стандартных образцов известного состава.

Методы спектрального анализа основаны на использовании либо субъективных, либо объективных методов измерения. Первая группа методов охватывает полуколичественный, вторая--количественный анализ. Чрезвычайно важно знать принципы спектрографических методов спектрального анализа.

При проведении спектрального анализа большую помощь оказывают таблицы, содержащие соответствующие физические постоянные и спектроскопические константы элементов и их наиболее важных соединений, а также таблицы для вспомогательных расчетов и рабочие инструкции, необходимые при качественных и количественных определениях.

5.2 Атомно-эмиссионная спектроскопия. Общие полжения

Атомная эмиссионная спектроскопия (АЭС) - физический метод качественного и количественного определения химического состава вещества, основанный на получении и детектировании линейчатого спектра, испускаемого в процессе излучательной релаксации электронов, которые претерпевают переход между верхними возбужденными уровнями и более низкими и основным уровнями. Эти электроны принадлежат внешним оболочкам атома и называются оптическими электронами. Линейчатый эмиссионный спектр (далее - атомный эмиссионный спектр) специфичен для каждого элемента, поэтому при надлежащем выборе определенной линии и ее выделение с помощью диспергирующей системы можно определить присутствие этого элемента и определить его концентрацию.

Анализатор является атомно-эмиссионным спектральным прибором, с лазерным источником возбуждения спектров.

Принцип действия анализатора основан на зависимости интенсивности спектральных линий атомного эмиссионного спектра от концентрации соответствующего элемента в пробе.

Спектром принято называть распределение энергии (интенсивности) излучения в зависимости от длины волны или частоты. Эмиссионные спектры получают разложением излучения источников света на монохроматические составляющие спектральными приборами и характеризуют функцией I= f(л).В качестве источников эмиссионных спектров, как правило, выступает газоразрядная плазма высокого давления (плазма с локально установившемся термодинамическим равновесием).

В анализаторе источником атомных эмиссионных спектров служит плазма вещества анализируемой пробы, образуемая в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов. Элементарными источниками эмиссионных спектров являются атомы и ионы (ионизованные атомы) вещества в возбужденном состоянии.

Атомные эмиссионные спектры состоят из спектральных линий видимого, ультрафиолетового и близкого инфракрасного диапазона. Разложение света на монохроматические составляющие (диспергирование) в анализаторе осуществляется с помощью дифракционного спектрографа с системой регистрации спектров цифровой камерой (детектором) на базе матричного прибора (ПЗС).

Индикация режимов работы анализатором, обмен данными, архивирование спектров и результатов анализа - осуществляется с помощью программно-аппаратного комплекса, реализованного на базе ПК класса IBMPC.

Чувствительность и точность АЭС зависят главным образом от физических характеристик источников возбуждения спектров - температуры, концентрации электронов, времени пребывания атомов в зоне возбуждения спектров, стабильности режима источника и т. д. Для решения конкретной аналитической задачи необходимо выбрать подходящий источник излучения, добиться оптимизации его характеристик с помощью различных приемов - использование инертной атмосферы, наложение магнитного поля, введение специальных веществ, стабилизирующих температуру разряда, степень ионизации атомов, диффузионные процессы на оптимальном уровне и т.д. Ввиду многообразия взаимовлияющих факторов при этом часто используют методы математического планирования экспериментов.

Основным преимуществом лазерных источников возбуждения является возможность получения спектров как токопроводящих, так и нетокопроводящих веществ и материалов. К тому же лазерные источники, в силу стабильности их энергетических и пространственных характеристик, позволяют проводить послойный анализ и анализ микровключений.

Основные области применения - анализ состава металлов и сплавов в металлургии и машиностроении, исследование геологических образцов и минерального сырья в горнодобывающей промышленности, анализ вод и почв в экологии, анализ моторных масел и других технических жидкостей на примеси металлов с целью диагностики состояния машин и механизмов.

5.3 Основытеории спектрального анализа

5.3.1 Качественный анализ

Качественный спектральный анализ решает две задачи: определение наличия элемента в анализируемом образце и (или) установление всех элементов, входящих в состав образца.

Метод решения этих задач на первый взгляд представляется простым: на зарегистрированном спектре пробы, определить каким элементам принадлежат обнаруженные в нем линии, и тем самым установить состав пробы. Однако напрактике осуществление такого метода наталкивается на определенные проблемы, которые, тем не менее, в большинстве случаев удается преодолеть.

Первая проблема - это расположение спектральных линий в широком спектральном интервале и различие в энергиях возбуждения линий, что приводит к тому, что спектры всех элементов не всегда могут регистрироваться и возбуждаться в одних и тех же режимах работы анализатора. Однако в большинстве случаев характер образца известен заранее и необходимо определять в нем несколько наперед заданных элементов, что часто позволяет сузить номенклатуру необходимых исследований до разумных.

Вторая проблема состоит в том, что спектры могут содержать огромное количество спектральных линий и осуществить полную расшифровку спектра и идентификацию всех линий трудоемко даже с помощью современных компьютеров. Эта проблема решается использованием последних линий для анализа, в случае малых концентраций определяемого элемента или контрольных линий, в случае, когда в силу каких-то причин последними линиями пользоваться неудобно.

Последние линии - это такие линии определяемого элемента, которые исчезают в последнюю очередь из спектра пробы при уменьшении в ней концентрации данного элемента. Последние линии всех элементов хорошо известны и часто приведены в приложениях таблиц и атласов спектральных линий.

Контрольные линии - это интенсивные линии элементов, выбранные с точки зрения удобства регистрации, для определенного диапазона концентраций элементов в пробе.

Для качественного анализа необходимо и достаточно надежно установить присутствие в спектре одной линии определяемого элемента. Таким образом, для полного анализа нужно разыскать лишь небольшое число линий в спектре пробы, соответствующее числу определяемых элементов.

Когда результаты качественного анализа отрицательны в том смысле, что интересующий нас элемент не обнаружен, то это означает лишь то, что концентрация искомого элемента в пробе ниже минимально обнаружимой данным методом концентрации. Иначе говоря, под отрицательным ответом подразумевается, что содержание определяемого элемента лежит ниже порога чувствительности метода. Таким образом, результаты качественного анализа имеют смысл лишь в том случае, когда известна, хотя бы приближенно, чувствительность определений.

5.3.2 Количественный анализ

Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивности аналитических линий, как правило, монотонно возрастают с увеличением содержания определяемого элемента в пробе. Теоретически рассчитать связь между интенсивностью линии I и концентрацией элементаС практически невозможно, так как эта связь зависит от большого числа факторов, не поддающихся точной оценке. Это в первую очередь относится к процессам образования плазмы и стабильности плазмы как источника излучения.

В большинстве случаев эту зависимость приходится устанавливать опытным путем. Для этого применяют так называемые «эталоны» или «стандартные образцы». Такими стандартными образцами служат пробы, близкие по составу к анализируемой и имеющие заранее известное содержание определяемого элемента. По измеренным интенсивностям аналитических линий в пробах, пользуясь построенной кривой, графически определяют концентрации примесей. Из этого следует, что спектральный анализ, по сути дела, является сравнительным методом анализа: получение результатов возможно только путем сравнения интенсивности спектральных линий пробы с интенсивностью тех же пиний стандартных образцов. Результаты анализа могут быть надежны лишь в той степени, в какой надежны применяемые эталоны.

5.3.3 Полуколичественный метод анализа

Разграничение между количественным и полуколичественным анализами, разумеется, чисто условно. Тем не менее, его разумно придерживаться, так как существует целый ряд методов, в которых, благодаря существенному снижению требований к точности результатов, удается добиться крайней простоты приемов анализа, что дает возможность чрезвычайно быстро и дешево получать оценочные значения. Иногда термином «полуколичественный» характеризуют методы, дающие результаты анализа с точностью до множителя от 1/3 до 3 от истинного содержания.

Так как в методическом отношении такие анализы отличаются от точного количественного анализа, то это дает основание выделить их в отдельную группу.

В отличии от количественного анализа, полуколичественный анализ осуществляется не по калибровочным графикам а по интервальным таблицам.Винтервальной таблице диапазону интенсивности присваивается диапазонконцентрации.

5.4 Анализатор лазерный элементного состава веществ и материалов LEA-S500.

5.4.1 Назначение

Анализатор - предназначен для определения химического состава металлов, сплавов, стекол, керамики, пластмасс, прессованных порошков, комбинированных и композитных материалов, полезных ископаемых и других веществ и материалов;

обеспечивает измерение массовой доли химических элементов и их соединений (окислов) в анализируемой пробе;

позволяет проводить анализ пробы в заданных точках (областях) поверхности, выбираемых с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения.

Анализатор применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений и т.д. на всех стадиях производства.

В качестве основного источника лазерного излучения в анализаторе используется твердотельный частотный 2-импульсный лазер с модуляцией добротности на AHr:Nd³⁺, генерирующий излучение с длиной волны 1064 нм, с энергией импульса излучения 150 мДж, длительностью импульса 12 не, частота повторения сдвоенных импульсов 20 Гц.Для визуализации основного источника лазерного излучения, настройки и регулировки в анализаторе используется полупроводниковый лазер, работающий на длине волны 650 - 680 нм с постоянной выходной мощностью 1 мВт.

1 - приборная стойка; 2 - система охлаждения лазера; 3 - блок питания лазера; 4 - блок измерительный; 5 - рабочая камера; 6 - монитор; 7 - клавиатура; 8 - мышь; 9 - системный блок компьютера.

Рисунок 5.1 - Общий вид анализатора.

10 - крышка откидная; 11 - винт крепления столика и фокусировки; 12 - герметизирующая прокладка; 13 - столик; 14 - место установки пробы; 15, 15' - блокировка излучения.

Рисунок 5.2 -Общий вид рабочей камеры.

18 - всасывающий клапан системы очистки; 19 - коллектор;

20 - винты крепления коллектора; 21 - апертура лазера и системы видеонаблюдения; 22 - рассеиватель; 23 - каретка; 24 - толкатели системы позиционирования.

Рисунок 5.3-Вид рабочей камеры со снятым столиком.

5.4.2 Технические характеристики

5.4.2.1 Спектральные и оптические характеристики

5.4.2.2 Функциональные характеристики

5.4.2.3 Тип и характеристики системы возбуждения атомных эмиссионных спектров

5.4.2.4 Общие характеристики

5.4.3 Принцип действия

Анализатор состоит из следующих основных частей: лазера; системы сбора, передачи и пространственного разложения на монохроматические составляющие оптического излучения - спектрографа; системы регистрации спектров (детектора) - цифровой камеры; программно-аппаратного комплекса (ПАК) отображения, архивирования спектров и результатов анализа.

5.4.3.1 Лазер

В анализаторе применен частотный 2-х импульсный лазер с модуляцией добротности на АИГ:Nd³⁺, генерирующий излучение с длиной волны 1064нм.Работа лазера основана на получении стимулированного излучения в активных элементах из кристаллов AHI:Nd³⁺при накачке излучением импульсной ксеноновой лампы.

Для получения 2-х импульсного излучения применяется оптическая система сведения импульсов от 2-х идентичных лазерных резонаторов. Специальная конструкция позволяет одновременно производить оптическую накачку 2-хактивных элементов одной импульсной лампой. Лампа и два активных элемента расположены в отражателе из кварцевого стекла с диффузным отражающим покрытием. Отражатель обеспечивает однородную засветку активных элементов и фильтрацию УФ части излучения лампы накачки. Часть возбуждающего излучения, попадающая в полосы поглощения ионов Nd³*, переводит последние в возбужденное состояние, приводя тем самым к инверсной населенности. По достижении пороговой инверсии лазер генерирует импульсы когерентного излучения.

Лазер используется в качестве импульсного источника энергии, и предназначен для формирования в приповерхностной зоне пробы яркосветящейся плазмы, спектральный состав излучения которой характеризует элементный (атомный) состав вещества или материала.

По своей сути двухимпульсный режим генерации является инженерной реализацией высокочастотного режима, при котором для пары импульсов реализуется частота следования до 1 МГц.

Излучение от источника лазерного излучения с помощью оптической системы с переменным фокусным расстоянием направляется на поверхность пробы. В результате фокусировки короткого импульса лазерного излучения длительностью 10 не, с энергией 80-150 мДж в пятно диаметром 0,2 - 1,2 мм на поверхности пробы может быть получена плотность мощности лазерного излучения 0.7-50 ГВт/см².

Лазер в анализаторе исполняет одновременно роль системы пробоотбора, атомизации (распад молекул на атомы) вещества и возбуждения атомных эмиссионных спектров, а в некоторых случаях, и роль системы подготовки пробы к анализу.

5.4.3.2 Формирование плазмы

При поглощении веществом энергии лазерного импульса, происходит нагрев, плавление и испарение нескольких микрограмм вещества. Под воздействием энергии переднего фронта лазерного импульса в испаренном радиально разлетающемся облаке вещества происходит образование области эрозионной плазмы. Движение частиц вещества в эрозионной плазме происходит со сверхзвуковой скоростью, что создает ударный фронт (зону повышенного давления) на границе плазма - воздух, который становится препятствием разлету вещества с прежней скоростью. В результате на границе плазма - воздух образуется область «уплотненной плазмы», которая экранирует энергию продолжающего поступать центрального и заднего фронтов лазерного импульса.

Экранированная энергия не достигает поверхности пробы, а частично отражается, частично поглощается на границе плазма-воздух. Поглощенная на границе энергия приводит к переходу электронов атомов в свободное состояние. В результате экранирования приостанавливается процесс испарения вещества пробы. Далее, эрозионная плазма вещества продолжает расширяться в объеме, создавая разреженную атмосферу за фронтом своего расширения. С окончанием лазерного импульса плазма быстро остывает.

Таким образом, при воздействии одиночного импульса лазерного излучения, выброс плазмы осуществляется в сравнительно плотную воздушную среду, характеризуемую атмосферным давлением и комнатной температурой (300 К). На некотором расстоянии от поверхности пробы образуется уплотненное облако плазмы (состоящее из эрозионной плазмы и плазмы воздуха), частично экранирующее энергию лазерного импульса. В этом случае энергия лазерного импульса, во-первых, не эффективно расходуется на развитие эрозионной плазмы, а во-вторых, способствует высокому уровню сплошного спектра. Из-за этого плазма находится в состоянии термодинамического равновесия непродолжительное время, что часто не позволяет зарегистрировать эмиссионные спектры на фоне сплошного спектра свечения плазмы. К тому же при таком развитии процесса аналитические линии часто подвержены реабсорбции, что прежде всего связано с турбулентным (с завихрениями)развитиемплазмы.

В отличие от развития плазмы первого импульса, развитие плазмы второго импульса лазерного излучения, следующего через 5-15 мкс (задержка подбирается экспериментальным путем), происходит в разогретых продуктах распада плазменного образования от первого лазерного импульса и при пониженном атмосферном давлении в приповерхностной области. Так же в зоне воздействия сохраняется остаточный разогрев поверхности пробы, что увеличивает энергетическую эффективность процесса плавления и испарение вещества. В таких условиях испаряемое вещество не встречает сопротивление воздуха и развитие эрозионной плазмы носит ламинарный характер, т.е. светящиеся пары распространяются прямолинейно, без завихрений. При этом не образуется слой экранирующей эрозионной уплотненной плазмы. Увеличивается энергетическая эффективность процесса, что ведет к достижению плазмой температуры, при которой интенсивность свечения плазмы становится независимой от температуры и, следовательно, менее чувствительной к колебаниям условий эксперимента. Удлиняется стадия термодинамического равновесия и, следовательно, интенсивность «полезного» свечения плазмы на фоне сплошного спектра становится больше. Появляется возможность получения спектральных линий элементов с большой энергией ионизации.

Перечисленные факторы, дают выигрыш в соотношении «сигнал/шум» при регистрации спектра, снижают порог обнаружения, уменьшают случайную составляющую погрешности. Ламинарный характер развития плазмы снижает реабсорбцию линий.

5.4.3.3 Спектрограф

Свет, излучаемый плазмой, до тех пор, пока атомы и ионы не вернуться к невозбужденному состоянию, попадает в спектрограф.

Спектрограф выполняет функцию сбора электромагнитного излучения (свечения) испущенного возбужденными атомами плазмы и пространственного разложения его на монохроматические составляющие для регистрации распределения интенсивности по длинам волн (получение атомного эмиссионного спектра).

1 - щель входная; 2 - затвор световой; 3 - зеркало сферическое, объектив коллиматорный; 4 - решетка дифракционная; 5 - зеркало сферическое, объектив цифровой камеры; 6 - детектор (цифровая камера).

Рисунок 5.4 -Схема спектрального канала.

Щель входная 1 расположена в фокусе зеркала сферического 3, совместно они обеспечиваю параллельный ход лучей в световом пучке, падающем на решетку дифракционную 4. Решетка дифракционная 4 осуществляет пространственное разложение электромагнитного излучения на монохроматические составляющие. Зеркало сферическое 5 строит монохроматические изображения щели входной 1 в свою фокальной плоскости, в которую помещено входное окно системы регистрации 6. Таким образом, в фокальной плоскости располагается дискретная или непрерывная совокупность монохроматических изображений щелей.

Для изменения спектральных интервалов (регионов спектра), регистрируемых детектором, решетка дифракционная 4 поворачивается вокруг оси, проходящей через ее центр по направлению штрихов. Во избежание снижения разрешающей способности одновременно с поворотом решетки дифракционной 4 согласовано поворачивается щель входная 1. Таким образом, установка решетки дифракционной 4 в то или иное положение, обеспечивает регистрацию того или иного спектрального региона.

Для анализатора, как прибора с матричным линейным детектором,наиболее информативной характеристикой является линейная дисперсией Линейная дисперсия характеризует линейное расстояние (измеренное в фокальной плоскости устройства) между лучами близких длин волн - dl/dл, и выражается в мм/нм и при необходимости легко может быть переведена в единицы dл. на пиксель, что и будет реально характеризовать разрешающую способность прибора с цифровой камерой.

Линейная дисперсия дифракционной решетки функционально связана с плотностью штрихов решетки и фокусным расстоянием объектива системы регистрации. Чем больше число штрихов на миллиметр у решетки и больше фокусное расстояние, тем более детально может быть исследован спектр по длинам волн. Однако с ростом плотности штрихов соответственно увеличивается размер линейной пространственной развертки, что при фиксированных габаритных размерах анализатора уменьшает диапазон регистрируемых длин волн, а также сужает регион (спектральный интервал одновременно регистрируемого спектра).

5.4.3.4 Детектор - цифровая камера

Яркость свечения плазмы (мгновенная интенсивность спектральных линий) не остается постоянной во времени, а изменяется от нуля до максимального своего значения и снова до нуля в процессе формирования, свечения и распада плазмы. На начальных и конечных стадиях жизни плазмыинтенсивность спектральных линий соизмерима с непрерывным (сплошным) спектром, обязанным своим происхождением свободным электронам. Логично было бы потребовать от системы регистрации временное разрешение порядка 1 мкс, позволяющее измерять интенсивность спектра в самый благоприятный момент. Однако систем с таким временным разрешением, при цене соизмеримой со стоимостью всего анализатора, не дает существенного выигрыша. Влияние паразитного сплошного спектра может быть практически исключено проведением многократных измерений.

При импульсном характере процессов «лазер - плазма» обеспечивается временная синхронизация цифровой камеры и лазера.

После получения команды съема изображения от лазера камера формирует последовательность синхронизирующих импульсов.

Команда съема изображения запускает три группы последовательно включенных счетчиков времени, генерирующих временные интервалы: «Задержка до накопления», «Накопление», «Задержка после накопления». Окончание формирования одного интервала времени автоматически вызывает запуск следующего счетчика.

Окончание временного интервала «Задержка после накопления» устанавливает триггер «Считывание» в логическую «1», по которому начинается процесс считывания информации из ФППЗ. После окончания процесса считывания триггер «Считывание» сбрасывается в логический «О». Далеепроцесс повторяется.

Камера работает в режиме полного вертикального биннинга - режим, в котором происходит суммирование зарядовых пакетов всехфоточувствительных элементов (пикселей) столбца ФППЗ всоответствующую ячейку сдвигового регистра с последующим считыванием.

То есть, в каждой ячейке сдвигового регистра будет получена сумма зарядовых пакетов фоточувствительных элементов (пикселей),составляющих полный соответствующий столбец ФППЗ.

Результат считывания - одна строка с п элементами.

Режим полного вертикального биннинга позволяет использовать матричный ФППЗ в качестве линейного. Направление считывания при этом параллельно направлению штрихов решетки и соответственно направлению щели.

5.4.3.5 Программно-аппаратный комплекс отображения, архивирования спектров и результатов анализа

Программно-аппаратный комплекс (ПАК) отображения, архивирования спектров и результатов анализа включает в себя ПК класса IBMPCи программное обеспечение ATILLA2.

Программное обеспечение ATILLA2 - предназначено для отображения режимов работы составных частей анализатора, регистрации и архивирования результатов качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного состава различных веществ и материалов.

5.4.4 Перечень возможных неисправностей

Перечень возможных неисправностей анализатора и способы их устранения приведены в таблице 2.

Таблица 5.1

Заключение

В ходе прохождения производственной практики я ознакомился со структурной организацией «Белорусский Государственный Университет Информатики и Радиоэлектроники». Изучил основные направления работы, получил возможность ознакомиться с новейшими разработками университета. Изучил основные принципы атомной эмиссионной спектроскопии, Получил возможность ознакомиться с работой анализатора лазерного элементного состава веществ и материалов LEA-S500. Ознакомился с нормативно-техническими документами действующими в институте, в частности, с правилами оформления конструкторской документации: графические (чертежи, схемы, графики) и текстовые (спецификации, перечни элементов, эксплуатационные инструкции, технические условия и т.д.), конструкторские документы.

Производственная практика позволила закрепить знания, полученные на протяжении обучения в университете.

Список использованных источников

белорусский университет конструкторская разработка

1. Достанко А.П., Емельянов В.А., Хмыль А.А. Методическое пособие по курсовому проектированию по дисциплине «Технология РЭС и автоматизация производства» для студентов специальности «Проектирование и производство РЭС». -Мн.: БГУИР, 1997. -104с.

2. Технология производства ЭВМ / А.П. Достанко, М.И. Пикуль, А.А. Хмыль: Учеб. - Мн. Выш. Школа, 2004 - 347с.

3. Технология деталей радиоэлектронной аппаратуры. Учеб.пособие для ВУЗов / С.Е.Ушакова, В.С. Сергеев, А.В. Ключников, В.П. Привалов; Под ред. С.Е. Ушаковой. - М.: Радио и связь, 2002. - 256с.

4. Тявловский М.Д., Хмыль А.А., Станишевский В.К. Технология деталей и периферийных устройств ЭВА: Учеб.пособие для ВУЗов. Мн.: Выш. школа, 2001. - 256с.

5. Технология конструкционных материалов: Учебник для машиностроительных специальностей ВУЗов / А.М. Дольский, И.А. Арутюнова, Т.М. Барсукова и др.; Под ред. А.М. Дольского. - М.: Машиностроение, 2005. - 448с.

6. Русанов А.К., Спектральный анализ руд и минералов. - М.: Госгеолиздат, 1948.

7. Зайдель А.Н., Основы спектральногоанализа, М., 1965

8. Wiese W.L., .Smith M.W, Miles B.M. Atomic transition probabilities: Vol. 2. Sodium through calcium.NSRDS-NBS 22.The Superintendent of Documents, Washington, DC, 1969.

9. Прайс В., Аналитическая атомно-абсорбционная спектроскопия. - М.: Мир, 1976 г. , 356 с.

10. ГОСТ 2.105-95 ЕСКД. Общие требования к текстовым документам.

11. Сайт http://www.bsuir.by/

Размещено на Allbest.ru