Исследование спектрально–кинетических свойств матриц волокон, активированных ионами Er3+
Получение и люминесцентные свойства легированного эрбием монокристаллического кремния. Влияние дефектов и примесей на интенсивность сигнала фотолюминесценции ионно-имплантированных слоев. Безизлучательная передача возбуждений между оптическими центрами.
Рубрика | Физика и энергетика |
Вид | дипломная работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 06.01.2016 |
Размер файла | 1,2 M |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
На рисунке 12 представлен спектр поглощения ионов эрбия в области 1,5 мкм.
Спектры поглощения, и их форма обусловлены всеми возможными переходами между энергетическими состояниями уровней 4I15/2 - 4I13/2. Поскольку между этими уровнями существует 56 возможных переходов, то внешнее окружение и воздействие со стороны кристаллического поля на оптические центры оказывают решающую роль в матрице относительно форму спектральных полос.
3.2.2 Спектры излучения ионов Er
Получение спектров излучения ионов эрбия в исследуемых образцах происходило по оптической схеме, представленной на рисунке 13. В качестве источника накачки оптического излучения выступал полупроводниковый лазерный диод с длиной волны генерации 980 нм. Регистрация спектров происходила при помощи ФПУ - PbS и ПЗС матрицы (для видимого диапазона). Выбор схемы накачки эрбиевых лазеров обусловлен поглощением оптических центров в области 0.9--1 мкм, соответствующий переходу 4I15/2 - 4I13/2.
.
Известные процессы ап-конверсии оптического излучения ионов эрбия определяют излучение оптической матрица в видимом диапазоне спектра, при условии накачки оптической системы в 980 нм.
На рисунке 14-15 представлены спектры излучения в области 500-700 нм исследуемых образцов. Поскольку нас не интересует детальное изучение люминесценции в данном спектральном диапазоне, мы не производили сканирование излучения по длине кристаллической матрицы. Спектр приведен для произвольной координаты исследуемого образца.
Представленные спектры излучения показывают, что интенсивность зеленой люминесценции исследуемых образцов почти в 4 раза выше, чем интенсивность красного излучения.
На рисунке 16 представлен спектр излучения эрбия в области 3 мкм. Данное излучение в средствах связи пока не используется, поскольку направляющие среды ВОЛС имеют предел пропускной способности в районе 2 мкм. Однако, данное излучение широко используется в медицинских целях.
Из представленного рисунка видно, что излучение в ИК диапазоне эрбия имеет широкую полосу и достаточную интенсивность люминесценции.
На рисунке 17 представлены спектры люминесценции в кристалле LiNbO3:Er измеренные в различных точка кристалла для интересующего нас спектрального диапазона 1400-1700 нм.
На диаграмме отчетливо видно, что интенсивность спектров измеренных в различных точках кристалла убывает по мере удаления от начальной координаты. Эта особенность заключается в том, что интенсивность спектральных полос, прямо пропорционально зависит не только от концентрации ионов Er3+, но и от концентрации Yb, который выступает в качестве донора.
Для определения корреляции интенсивности оптического сигнала с концентрацией оптических центров, нами была рассчитана суммарная энергия излучения оптических центров Er в зависимости от координаты кристалла, где проводились измерения.
Для этого, нам необходимо было разложить интегральный спектр излучения на отдельный гауссовые компоненты и просуммировать их аналогично тому, как приведено на графике рисунка 18.
Зависимость интегральной спектральной энергии излучения ионов Er от координаты исследований приведена на графике рисунка 19.
На рисунке 20 представлена корреляция энергии излучения оптической системы в области 1,5 мкм от концентрационного профиля оптических центров Yb3+.
Из представленной зависимости можно сделать вывод, что характер изменения интенсивности излучения 1,5 мкм в исследуемом градиентно активированном образце имеет высокую корреляцию с концентрционным профилем доноров.
На рисунке 21 представлен график соотношения интенсивности излучения кристаллов ниобата лития различного состава и боратного стекла в спектральной области 1,5 мкм.
3.3 Обсуждение полученных результатов
Из полученных экспериментальных данных можно сделать вывод, что при накачке на длине волны 980нм в кристалле LiNbO3:Er наблюдается люминесценция ионов Er3+ на длине волны в районе 1,5 мкм, что характерно для материалов используемых в качестве активной среды для усилителе типа
EDFA. Также при анализе спектров люминесценции выяснилось, что интенсивность люминесценции убывает по длине кристалла. Это явление связано с тем, что концентрация ионов эрбия возрастает, при этом возникает эффект ап-конверсии. При возникновении данного эффекта образуются, так называемы, кластеры в которых ионы легирующий примеси находятся близко друг к другу. В таких случаях возникает вероятность безызлучательного обмена энергией между оптическими центрами, что приводит к уменьшению интенсивности люминесценции.
Заключение
Основные результаты дипломной работы состоят в следующем:
1 Исследованы основные актуальные проблемы по теме «Исследование спектрально - кинетических свойств матриц волокон, активированных ионами Er3+.»
2 Проанализированы основные методы получения спектров поглощения и люминесценции в кристаллах LiNbO3:Er, основанные на использовании лабораторного комплекса на базе монохроматора МДР-204.
3 Получены и проанализированные экспериментальные данные в виде спектров люминесценции ионов эрбия в кристалле LiNbO3:Er, которые подтверждают, что при увеличении концентрации данных ионов, интенсивность люминесценции уменьшается. Это явление связанно с процессом ап-конверсии, при котором ионы Er3+, образуют кластеры, при этом возникает вероятность безызлучательного обмена энергией между данными ионами, что в свою очередь приводит к уменьшению интенсивности люминесценции.
Список использованных источников
Желтиков А. М. Оптика микроструктурированных волокон / А.М Желтиков. - Москва: Наука, 2004. - 94 стр.
Шумкова Д. Б. Специальные волоконные световоды: [уч. Пособие] / Д. Б. Шумкова., А. Е. Левченко. - Пермь: Изд-во Перм. нац. исслед. политех, ун-та, 2011.- 178 с.
Мендез А. Справочник по специализированным оптическим волокнам/ А. Мендез, Т. Ф. Морзе. - Москва: Техносфера, 2012. - 728 с.
Варакса Ю. А. Температурная зависимость отношения интенсивностей полос апконверсионной флуоресценции активированных ионами эрбия кристаллов YVO[4] и YGdVO[4] и свинцово-фторидных наностеклокерамик / Ю. А. Варакса // Оптика и спектроскопия. - 2015. - Т. 118, № 1. - С. 146-150
Бурков В. Д. Научные основы создания устройств и систем волоконно-оптической техники / В.Д. Бурков, Г.А. Иванов. - Москва: Изд-во МГУЛ, 2008. - 332 с.
Асеев В. А. Спектрально - люминесцентные свойства прозрачной свинцовофторидной наностеклокерамики, активированной ионами эрбия / В. А Асеев, В. В. Голубков, А. В. Клементьева. // Оптика и спектроскопия. - 2009. - Т. 106. - № 5. - С .770-775.
Примесная фотопроводимость эпитаксиальных слоев Si:Er/Si / А. В. Антонов, К. Е. Кудрявцев, Д. В. Шенгуров, В. Б. Шмагин. // Сборник тезисов XI Российской конференции по физике полупроводников: Санкт-Петербург. - 2013. - С. 356.
Андреев Б. А. Диодные светоизлучающие структуры Si:Er/SOI / Б. А. Андреев, З. Ф. Красильник, Д. И. Крыжков. // Труды XVI международного симпозиума “Нанофизика и Наноэлектроника”: Нижний Новгород. - 2012. - Т. 1. - С. 293.
Антонов, А. В. Особенности примесной фотопроводимости в эпитаксиальных диодах Si:Er/Si / А.В. Антонов, К.Е. Кудрявцев // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, №11. - с. 151.
Concentration of Er3+ ions contributing to 1.5-µm emission in Si/Si:Er nanolayers / N.Q. Vinh, S. Minissale, H. Vrielinck, T. Gregorkiewicz. // Phys. Rev. B. - 2014. - Vol. 76. - P. 39.
Ремизов, Д. Ю. Ударное возбуждение ионов эрбия в кремниевых светодиодных структурах, полученных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии: дис… канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / Ремизов Дмитрий Юрьевич. - Нижний Новгород, 2015. - 159 с.
Yuan, H. Detection of a shallow level in a semiconductor by admittance spectroscopy / H. Yuan, H. Zhang, F. Lu // Semic. Sci. Technol. - 2013. - Vol. 24. - P. 85.
Андреев, Б. А. Особенности фотолюминесценции эрбия в кремниевых структурах, полученных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии / Б.А. Андреев, З.Ф. Красильник // ФТТ. - 2001. - Т. 43, №6. - С. 979-984.
Размещено на Allbest.ru
Подобные документы
Основные процессы и явления, определяющие спектры активированных лазерных сред. Принципы получения спектральных характеристик матриц на основе ионов Er3+. Экспериментальные измерения спектров поглощения и люминесценции, анализ полученных данных.
дипломная работа [634,7 K], добавлен 18.05.2016Значение и использование монокристаллического кремния при производстве солнечных элементов повышенной эффективности. Природа и механизм возникновения дефектов для пар железо-бор в составе элементов при различных условиях эксплуатации и освещения.
реферат [104,0 K], добавлен 23.10.2012Анализ основных особенностей методов получения нового лазерного материала – керамики для разработки мощных твердотельных лазеров нового поколения на основе селенида и сульфида цинка. Исследование спектрально-кинетических свойств полученных образцов.
дипломная работа [3,3 M], добавлен 28.01.2014Понятие фотодинамической терапии, фотосенсибилизаторы. Механизм участия и методы регистрации триплетного кислорода в ФДТ. Спектрально-люминесцентные свойства водорастворимых мезо-пиридил замещенных свободных оснований порфиринов и их цинковых комплексов.
курсовая работа [974,3 K], добавлен 28.05.2012Получение поликристаллического кремния. Методы получения газовых соединений Si, поликристаллических кремния из моносилана SiH4. Восстановление очищенного трихлорсилана. Установка для выращивания монокристаллического кремния. Мировой рынок поликремния.
дипломная работа [2,3 M], добавлен 14.12.2011Исследование особенностей технологических путей создания микрорельефа на фронтальной поверхности солнечных элементов на основе монокристаллического кремния. Основные фотоэлектрические параметры полученных структур, их анализ и направления изучения.
статья [114,6 K], добавлен 22.06.2015Возможность формирования различных структур в стандартных пластинах монокристаллического кремния с использованием дефектов, создаваемых имплантацией водорода или гелия. Поперечная проводимость сформированных структур. Системы нанотрубок в кремнии.
реферат [6,4 M], добавлен 25.06.2010Изучение фотоэлектрических свойств полупроводников для выявления физических закономерностей в различных структурах. Полупроводниковые свойства хлопковых волокон. Рассмотерние особенностей сорта электрических свойств хлопковых волокон "Гульбахор".
реферат [13,0 K], добавлен 22.06.2015Создание технических средств метрологического обеспечения контроля качества полупроводниковых материалов. Анализ установки по измерению удельного электрического сопротивления четырехзондовым методом. Измерение сопротивления кремния монокристаллического.
дипломная работа [1,2 M], добавлен 24.07.2012Общее понятие и особенности ионной имплантации. Структура и свойства имплантированных слоев. Физические основы метода. Влияние энергии ионов на процессы энергообмена при их столкновении с атомами мишени. Преимущества процесса ионной имплантации.
реферат [61,4 K], добавлен 19.01.2011