Исследование оптических свойств лазера накачки
Эрбиевые усилители оптического сигнала. Параметры волоконных усилителей. Выходная мощность сигнала и энергетическая эффективность накачки. Ширина и равномерность полосы усиления. Полупроводниковый лазер накачки "ЛАТУС-К". Конструкция лазера накачки.
Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
Вид | дипломная работа |
Язык | русский |
Дата добавления | 24.12.2015 |
Размер файла | 3,4 M |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
После фиксации системой регистрации линии лазерного излучения производилась запись спектров с шагом 0,1 мм по длине волны и 1 0С по температуре.
Для изменения температуры лазера в блоке управления «ЛАТУС-К» предусмотрен диалоговый режим изменения температуры, причем одна температура устанавливается вручную и соответствует температуре окружающего воздуха, что является необходимым параметром для учета теплопередачи между блоком и окружающей средой. Данная температура измерялась термометром в лаборатории и соответствовала 20 0С.
Другой параметр, температура лазерного кристалла, являлась не учитываемым (как в первом случае), а изменяемым параметром. Максимальное значение данного параметра в моих экспериментах составило 36 0С.
Примерный вид измеренных спектров излучения лазера накачки при разных температурах представлен на рис.3.2-3.3. Из них видно, что спектр излучения лазера многомодовый и при изменении температуры происходит перераспределение энергии излучения по спектру.
Рисунок 3.2 - Спектр излучения лазера накачки «ЛАТУС-К» при Т=28 0С
Рисунок 3.3 - Спектр излучения лазера накачки «ЛАТУС-К» при Т=34 0С
3.2 Обработка спектров излучения
После проведения серии экспериментов, был получен набор спектров излучения при различной температуре полупроводникового лазера. Спектры обрабатывались средствами Excel 2010 для нахождения положения максимума линии излучения, ее полуширины и интегральной интенсивности.
На рис. 3.4 представлена температурная зависимость положения максимума линии излучения от температуры.
Рисунок 3.4 - Температурная зависимость максимума линии излучения лазера накачки
Из рис.3.4 видно, что с повышением температуры максимум излучения лазера смещается в длинноволновую область. Данный факт может играть положительную роль для согласования спектров излучения лазера накачки и кристалла, активированного ионами иттербия и эрбия, с максимумом самой интенсивной линии поглощения на 980 нм.
Подобное поведение, смещение максимума линии излучения в длинноволновую область, является типичным для полупроводниковых лазеров.
Посмотрим далее, как себя ведет другой не менее важный параметр лазера накачки - интегральная интенсивность излучения. На рис.3.5 представлена ее температурная зависимость.
Рисунок 3.5 - Температурная зависимость интегральной интенсивности лазерной линии излучения
Из данных рис.3.5 следует, что интегральная интенсивность лазера «ЛАУТУС-К» при повышении температуры экспоненциально уменьшается. Данный факт, является также традиционным для поведения полупроводниковых лазеров и светодиодов и объясняется снижением с повышением температуры вероятности излучательного перехода из зоны проводимости в валентную зону.
Однако, в данном случае, такое сильное «тушение» лазерной линии будет снижать эффективность полупроводниковой лазерной накачки иттербий и эрбий содержащих кристаллов.
Для учета одновременного влияния двух экспериментально установленных фактов необходимо рассчитать интеграл перекрытия между спектрами излучения лазера накачки «ЛАТУС-К» при различных температурах и спектром поглощения кристалла с ионами иттербия и эрбия.
Для этого в своей работе я измерил спектр поглощения кристалла ниобата лития с ионами иттербия и эрбия (рис.3.6).
Рисунок 3.6 - Измеренный спектр поглощения ниобата лития с иттербием и эрбием
Для удобства численного расчета интеграла перекрытия между спектрами средствами Excel 2010 я проводил измерения спектра поглощения с шагом 0,1 нм, таким же, как и шаг при измерении спектров излучения лазера накачки «ЛАТУС-К». На рис. 3.7 представлен пример наложения на спектр поглощения ниобата лития спектров излучения лазера накачки при разных температурах.
Рисунок 3.7 - Спектры поглощения ниобата лития с иттербием и эрбием (черная линия) и спектры излучения лазера при температуре 28 0С (зеленая линия) и 34 0С (красная линия)
Рисунок 3.8 - Температурная зависимость интеграла перекрытия линии излучения лазера накачки «ЛАТУС-К» и ниобата лития с иттербием и эрбием
Из рис.3.7 видно, что при повышении температуры лазерная линия излучения все больше совпадает с максимумом линии поглощения кристалла, однако ее интенсивность существенно уменьшается.
Для более точного ответа об эффективности использования лазера «ЛАТУС-К» для накачки ниобата лития с иттербием и эрбием были числено рассчитаны интегралы перекрытия спектров излучения лазера и поглощения кристалла (рис.3.8).
Из рис.3.8 видно, что несмотря на приближение длины волны излучения к максимуму линии поглощения ниобата лития с иттербием и эрбием определяющим фактором эффективности накачки является интегральная мощность излучения.
Заключение
Основные результаты выпускной квалификационной работы состоят в следующем:
1 Собрана оптическая схема для изучения температурной зависимости эффективности накачки.
2 Измерена температурная зависимость спектров излучения полупроводникового лазера с волоконным выходом «ЛАТУС-К» в диапазоне 25-40 0С при мощности накачки 1 Вт.
3 Из измеренных спектров определены положения максимумом линии излучения и интегральная интенсивность линии излучения.
4 Рассчитаны интегралы перекрытия линии излучения лазера накачки со спектром поглощения кристалла с иттербием и эрбием в диапазоне 950-980 нм.
5 Наибольший интеграл перекрытия, а значит и эффективность лазерной накачки наблюдается в диапазоне 25-27 0С.
Список использованных источников
1 Варава Н. Оптические усилители EDFA: практическое применение / Н. Варава, М. Никоноров, С. Пронин // Первая миля. - 2011. - №3. - С. 48 - 53.
2 Волоконно-оптическая техника: современное состояние и новые перспективы / Под ред. С. А. Дмитриева, Н. Н. Слепова. - М.: Техносфера: Волоконно-оптическая техника, 2010. - 607 с.
3 Razeghi M. Technology of quantum devices / M. Razeghi, W. Murphy. Evanston: Springer, 2010. - 560 c.
4 Пржевуский А. К. Конденсированные лазерные среды / А. К. Пржевуский, Н. В. Никоноров. - СПб.: ИТМО, 2009. - 146 с.
5 Balda R. Near infrared to visible upconversion of Er3+ in CaZrO3/CaSZ eutectic crystals with ordered lamellar microstructure / R. Balda, S. Garcia-Revilla // Journal of Luminescence. - 2009. - T. 129. - С. 1422 - 1427.
6 Галаган Б. И. Эффективность заселения уровня 4I13/2 иона Er3+ и возможность генерации излучения с длиной волны 1,5 мкм в ИАГ:Yb, Er при высоких температурах / Б. И. Галаган, Б. И. Денкер, В. В. Осико // Квантовая электроника. - 2007. - Т. 37. - №10. - С. 971 - 973.
7 Koechner W. Solid-state lazer engineering / W. Koechner. - Round Hill: Springer, 2006. - 747 c.
8 Салех Б. Оптика и фотоника. Принципы и применение. Пер. с англ.: Учебное пособие. В 2 т. Т. 2/ Б. Салех, М. Тейх - Долгопрудный: Издательский дом «Интеллект», 2012.
9 Frequency conversion in compositionally graded PPLN crystals / V.V. Galutskiy, E.V. Strogonova, S.A. Shmargilov, N.A. Yakovenko // Quantum Electronics 2014.Vol 44, № 1. P 30 - 33.
10 Теоретическое моделирование и экспериментальное исследование Yb:YAG - лазера на тонком диске с диодной накачкой / К. Котанг, М. Каршевский, К. Стивен, А. Гисен, Г. Хюген // “Квантовая электроника”, 28, №2, 1999. -- 140--142 с.
11 Diod Pamped Solid State Lasers / T.Y. Fan // The Lincoln Laboratory Journal, number 3, 1990. P 415--421.
12 Увеличение эффективности накачки при использовании градиентно сенсибилизированных лазерных кристаллов / Е.В. Строганова, В.В. Галуцкий, Д.С. Ткачев, Н.Н. Налбантов, А.А. Цема, Н.А. Яковенко // Оптика и спектроскопия, том 117, номер 6, 2014.
13 Эффективный одномодовый (TEM00) Nd : YVO4-лазер с продольной диодной накачкой на длине волны 808 нм / В.И. Донин, Д.В. Яковин, М.Д. Яковин // “Квантовая электроника”, том 43, номер 10, 2013. -- 903--906 с.
14 О работах предприятия по созданию твердотельных лазеров с полупроводниковой накачкой / Б.Н. Борисов, В.К. Демкин, В.М. Дунин // Лазеры и лазерные технологии, 2003.
15 Компактный твердотельный лазер с продольной накачкой / А.В. Лапота, А.М. Григорьев // “Центр лазерных технологий”, 2010.
16 Твердотельные лазеры с диодной накачкой на керамике, допированной ионами и / А.С. Егоров, А.П. Савкин // Учебно-научный комплекс “Физические основы информационно-телекоммуникационных систем”, 2011.
Размещено на Allbest.ru
Подобные документы
Инжекционный механизм накачки. Величина смещающего напряжения. Основные характеристики полупроводниковых лазеров и их группы. Типичный спектр излучения полупроводникового лазера. Величины пороговых токов. Мощность излучения лазера в импульсном режиме.
презентация [103,2 K], добавлен 19.02.2014Схема накачки редкоземельных элементов Tm3+, находящегося в диэлектрическом кристалле, сравнительные характеристики матриц. Характеристики кристалла. Спектры пропускания и люминесценции. Экспериментальное исследование генерационных характеристик лазера.
контрольная работа [750,7 K], добавлен 13.06.2012Два подхода к процессу фотопотемнения. Световод легированный Yb2O3. Спектры люминесценции, полученные при возбуждении лазера. Обработка данных с синхротрона Desy. Функция Гаусса. Зависимость интегральной люминесценции от длины волны накачки образца.
контрольная работа [2,5 M], добавлен 06.01.2016Исследование активных висмутовых центров и обзор области применения волоконных висмутовых усилителей. Изучение конструкции современных усилителей на основе висмута, пути их развития в волоконной оптике. Устройство лазера на основе висмутового волокна.
курсовая работа [1,9 M], добавлен 18.07.2014Методика и порядок исследования модового состава волоконных световодов по распределению интенсивности в их поперечном сечении. Зависимость степени когерентности от тока накачки, причины появления модовых шумов в волоконно-оптической линии связи.
лабораторная работа [128,1 K], добавлен 04.06.2009Общие свойства оптоволоконных сетей, их назначение и применение. Расчет параметров оптических усилителей, предназначенных для усиления сигнала в составе волоконно-оптических линий связи, их характеристики и методы их оптимального функционирования.
дипломная работа [2,7 M], добавлен 19.11.2013Оптические дисковые системы. Излучение полупроводникового лазера. Измерение ошибки фокусировки по методу ножа Фуко. Характеристика сигнала расфокусировки. Передаточные функции звеньев. Схема датчика положения. Привод головки с подвижной катушкой.
курсовая работа [96,4 K], добавлен 07.02.2011Использование для усиления узкополосных сигналов так называемых резонансных усилителей (ламповых и транзисторных). Разработка принципиальной электрической схемы усилителя сигнала с амплитудной модуляцией. Расчет характеристики, графика выходного сигнала.
курсовая работа [168,9 K], добавлен 17.12.2009Проектирование устройства полупроводникового усилителя оптического сигнала ВОЛС, работающего на длине волны нулевой хроматической дисперсии кварцевых волокон – 1,3 мкм. Энергетический расчет, особенности конструирования узла оптического усилителя.
дипломная работа [1,2 M], добавлен 19.04.2011Основные характеристики и применение аргонового лазера. Вынужденное испускание фотонов возбужденными атомами. Процесс поглощения фотонов. Активная среда ионных лазеров. Уровни энергии для лазера на ионах аргона. Характерные значения выходной мощности.
реферат [1,6 M], добавлен 12.06.2011