Микроинтерферометрия для контроля и оценки трехмерных дефектов
Контроль рельефа поверхности и оценка размера трёхмерных дефектов. Кривизна полос. Оптическая схема микроинтерферометра Линника. Интерферограммы. Ход лучей в системе "плёнка-подложка" при измерении толщины плёнки. Метод отражательной интерференции.
| Рубрика | Коммуникации, связь, цифровые приборы и радиоэлектроника |
| Предмет | Электроника |
| Вид | реферат |
| Язык | русский |
| Прислал(а) | redslive |
| Дата добавления | 15.01.2009 |
| Размер файла | 1,4 M |
Отправить свою хорошую работу в базу знаний просто. Используйте форму, расположенную ниже
Студенты, аспиранты, молодые ученые, использующие базу знаний в своей учебе и работе, будут вам очень благодарны.
Подобные документы
Технологические операции регулировки и настройки. Критерии оценки качества регулировочных и настроечных операций. Виды процессов контроля и диагностика радиоэлектронной аппаратуры. Классификация дефектов РЭА. Способы поиска неисправностей. Испытания РЭА.
презентация [321,6 K], добавлен 31.10.2016Выявление деталей с поверхностными и подповерхностными трещинами по вихретоковому методу контроля деталей. Приборы (дефектоскопы) для выявления поверхностных дефектов, их технические данные, устройство и работа, составные части, порог чувствительности.
лабораторная работа [1,9 M], добавлен 09.01.2011Допуск на общую ошибку от номинального радиуса кривизны. Случаи обнаружения ошибок как в случае сферических поверхностей, так и плоских. Местные ошибки (ΔN) поверхности являются нарушением равномерности ее профиля. Оптическая схема интерферометров.
реферат [2,6 M], добавлен 19.11.2008Вид статистического приемочного контроля по альтернативному признаку. Объем партии - число единиц продукции. Классификация дефектов – критические, значительные, малозначительные. Уровни контроля – одно- и двуступенчатый. Примеры проведения контроля.
реферат [234,6 K], добавлен 03.02.2009Элементы оптических систем. Оптическая система – совокупность оптических сред, разделенных оптическими поверхностями, которые ограничиваются диафрагмами. Преобразование световых пучков в оптической системе. Оптические среды. Оптические поверхности.
реферат [51,5 K], добавлен 20.01.2009Фоторезисты и их свойства. Травление подложки с защитным рельефом и удаление защитного рельефа. Формирование слоя фоторезиста и защитного рельефа. Организация производства фотолитографического процесса. Изготовление высококачественных фотошаблонов.
реферат [127,9 K], добавлен 27.03.2010Процесс электрографии на фильтрованной бумаге. Электрофорез – движение заряженных частиц, находящихся в виде суспензии в жидкости. Декорирование с помощью коронного разряда. Сравнительная оценка параметров электрохимических методов обнаружения дефектов.
реферат [926,5 K], добавлен 03.02.2009Идентификационные метки: штриховое кодирование, радиочастотные идентификационные и пассивные радиочастотные метки. Выбор материала для подложки и металлизации поверхности. Оценка эффективности инновационного процесса. Возможные радиационные потери.
дипломная работа [3,4 M], добавлен 12.11.2010Моделирование вихретокового контроля с помощью системы намагничивающих и измерительной катушек. Исследование зависимости информативного сигнала при разных частотах для различных форм дефектов. Расчет информативных признаков. Построение нейронных сетей.
курсовая работа [1,4 M], добавлен 27.10.2010Варианты устройства дистанционного контроля микроклимата. Методы оценки экономического эффекта от него. Организация производства устройства дистанционного контроля микроклимата. Оценка затрат на разработку, экономическое обоснование целесообразности.
курсовая работа [1,0 M], добавлен 19.12.2013
